東莞SIR和CAF表面絕緣電阻測試
1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導(dǎo)體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。2、導(dǎo)電陽極絲(CAF)目前公認的CAF成因是銅離子的電化學遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內(nèi)部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑產(chǎn)生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個簡單而且容易測量的指標,絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場強度以及樣品處理等。絕緣失效通??赡馨l(fā)生在PCB表面或者內(nèi)部,前者多見于電化學遷移(ECM)或化學腐蝕,后者則多見于導(dǎo)電陽極絲(CAF)。1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導(dǎo)體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估。東莞SIR和CAF表面絕緣電阻測試
電阻測試PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時,原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標,電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點場、熱能、機械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下,電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。陜西PCB絕緣電阻測試市場在電子設(shè)備領(lǐng)域,表面阻抗測試SIR測試被認為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。
Sir電阻測試可以應(yīng)用于各種不同的電路中。無論是簡單的電路還是復(fù)雜的電路,都可以使用Sir電阻測試來測量電阻值。這種測試方法不僅適用于實驗室環(huán)境,也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測試可以用來檢測電路中的故障,提高生產(chǎn)效率。除了測量電阻值,Sir電阻測試還可以用來檢測電路中的其他問題。例如,它可以用來檢測電路中的短路和斷路。通過測量電磁場的變化,可以判斷電路中是否存在短路或斷路問題。這種測試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問題,并進行修復(fù)。
絕緣電阻測量:-偏置電壓:100V+2V-測量電壓為100v時無極化變化-**小時間斜坡到100V=2秒-測量時間=60秒-被測樣品應(yīng)與其他樣品電隔離限流電阻:**小1mohm與PCB串聯(lián)在線測試程序:1)PCB干燥后立即進行絕緣電阻測量;2)將樣品放入環(huán)境測試箱,并連接到在線測量設(shè)備。在試驗結(jié)束前,不能取出樣品,也不能打開試驗箱。(組數(shù)據(jù))3)施加溫度至85℃(持續(xù)時間3小時),然后施加濕度至85%的相對濕度(持續(xù)時間另一個3小時),沒有偏置電壓(第二組數(shù)據(jù))。在85℃,85%濕度下放置96小時后,測量絕緣電阻為IR初始值(第三組數(shù)據(jù))4)開始輸出偏置電壓100V-標記為0小時,開始試驗;智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。
從監(jiān)控的方式看:都是通過監(jiān)控其絕緣阻值變化作為**重要的判斷指標;故很多汽車行業(yè)或?qū)嶒炇乙蚜晳T上把ECM/SIR從廣義上定義為CAF的一種(線與線之間的表面CAF)。ECM/SIR與CAF的聯(lián)系與差異差異點:從產(chǎn)生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移;而CAF是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移,進而出現(xiàn)漏電;從產(chǎn)生的現(xiàn)象看:ECM/SIR會在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì);而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間,出現(xiàn)陽極金屬絲;智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣,可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。湖南pcb板電阻測試系統(tǒng)
選擇智能電阻時,用戶需要考慮測量范圍和分辨率。東莞SIR和CAF表面絕緣電阻測試
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計方案;(當然重點還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時,會造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項受客戶產(chǎn)品設(shè)計的制約;產(chǎn)品的防濕保護設(shè)計;解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計,如涉及海運,建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;東莞SIR和CAF表面絕緣電阻測試
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